x射线技术可以实时图像纳米特性

科学家开发出了一种新的成像技术,看起来在一个对象和地图的三维分布的纳米特性在实时。

 

曼彻斯特大学的研究人员,和同事一起工作在英国,欧洲和美国,声称该技术可以广泛的应用在许多学科,如材料科学、地质学、环境科学和医学研究。

 

“这个新的成像方法——称为一对象征分布函数计算层析成像的一个最重要的发展在x射线微断层近30年,”罗伯特Cernik教授说在曼彻斯特材料学院的。

 

“用这种方法我们能够图像对象在一种非损伤性方式来揭示他们的物理和化学纳米属性和联系到他们的分布在三维空间在微米级。

 

“这样的关系是关键,了解材料的性能,因此可以用来看看原位化学反应,探针应力-应变梯度在制造的部件、区分健康和病变组织,确定矿物和含油岩石或识别非法物质或违禁品在行李。”

 

这项研究发表在《自然通讯》杂志上,解释了新的成像技术使用散射x射线来形成一个三维重建图像。

 

当x射线击中一个对象他们要么是传播、吸收或散射,Cernik教授在一份声明中说。“标准x射线断层扫描是通过收集传播梁、旋转样本和数学重建物体的3 d图像。这只是一个密度对比图像,但是,通过类似的方法使用散射x射线相反我们可以获取信息和化学结构的对象,即使它有一个纳米晶体结构。

 

通过使用这种方法我们能够构建一个更详细的图像对象和第一次分离纳米结构的不同部分的信号从一个工作装置看到原子被做在每一个位置,在不拆卸对象。”

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