安捷伦x系列支持LTE-Advanced射频测试

安捷伦科技延长了领导LTE-Advanced测量其最新的x系列测量应用程序版本。软件承诺提供最全面的射频一致性测试LTE-Advanced FDD和TDD发射器和组件3 gpp释放11规范。它可用于台式和模块化产品。

LTE-Advanced是LTE的不断发展进化的一步。适当的测试和测量在整个开发生命周期,然而,仍然是其成功扩散的关键。安捷伦先前介绍的LTE-Advanced信号分析仪和信号生成解决方案,行业第一,袭击了这个问题在研发阶段。现在,嵌入式LTE-Advanced x系列测量应用程序是解决在设计验证和制造阶段测试的挑战。

新LTE-Advanced测量应用程序提供了一键测量为安捷伦的x系列和模块化的信号分析仪。测量速度快、可编程性计划通过/失败测试和操作简单,适合应用程序设计验证和制造业。

“验证和制造LTE-Advanced发射器和组件需要业内最好的,最新的解决方案,”安迪Botka说,副总裁和总经理安捷伦微波和通信部门。“建设对我们创新的良好记录在新兴的无线标准,这个新的嵌入式测量应用程序的广泛支持3 gpp释放11规范将确保我们的客户有更大的洞察力和信心,他们需要LTE-Advanced无线测试。”

安捷伦的LTE-Advanced测量应用程序启用该行业最全面的射频一致性测试连续和不连续LTE-Advanced发射器配置的3 gpp 11版规范定义的。具体测量支持包括发射机输出功率特性测试,信号传输质量和不必要的基站和用户设备的排放。

也支持在测量应用程序是累积ACLR(CACLR)和累积光谱排放面具(SEM)测量非相邻载波intra-band aggregation-a 3 gpp 11版的新要求。intra-band非相邻配置多余的排放射频测量引入了独特的挑战,因为频谱内的子块缺口可以由另一个运营商部署。新的CACLR要求和独特的特殊扫描电镜测量措施来自运营商的面具两边的子块的差距。新LTE-Advanced测量应用程序是唯一的解决方案在市场上提供CACLR和非相邻载波聚合特别SEM的面具。

x系列测量的应用增加安捷伦信号分析仪的功能和功能速度时间洞察力。他们在通用为特定任务提供必要的测量,细胞通讯­,无线连接和数字视频应用,覆盖40多个标准或调制类型。应用程序支持台式和模块化的,唯一的区别是水平的性能通过您选择的硬件。选择您的应用程序所需的性能水平,充分保证计算和算法是相同的在你的信号分析,从开发­通过制造。

拨码开关http://www.cxesw.com