创3 PXI使射频测试仪器推动边界

PXI创3,新版本的PXI标准在PCI总线传输数据在PXI底板使射频仪器特别是收集,从许多测试系统和过程数据,并允许开发人员获得更深入的发展他们的产品。

创3支持24 GBps的传输率系统带宽,带宽和8 GBps槽。这使得PXI测试仪器模块收集和传输更多的数据在实时。

这使得射频工程师使用测试仪器像倪PXIe 5668 r获得信号最宽765 MHz带宽和传输的数据进行处理。

这使得许多新测试场景要成功实现更严格的和深入的雷达等测试,测试的电子战系统,半导体特性描述。

雷达测试,雷达脉冲变得极窄增加对象的分辨率更清楚。进行测试,这意味着有必要准确地捕捉这些窄脉冲,这需要一个更广泛的瞬时带宽仪器。

与半导体描述另一个领域的发展,例如802.11交流通道带宽高达160兆赫,这将需要一个实时捕获的480 mhz带宽相邻信道功率测量,等等。

这意味着对于许多开发测试,数据从这个捕获带宽需要处理。以这种速度传输数据在PXI总线只能新创3 PXI更新完成。

例如样本765 MHz带宽、采样率必须至少1.5 gsamples每秒。每个样品都是4个字节导致至少6 gbps单通道。

高性能创3控制器还提供了处理大量数据的能力。

这样可以看出新的测试工具支持这些广泛的带宽以及匹配PXI底盘的许多领域正在迅速成为一个必要性测试和描述。

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