高通选择Rohde & Schwarz测试系统

高通技术公司选择了Rohde & Schwarz的一个射频测试系统来测试和表征其第一代5G射频收发器(SDR051)。

高通技术公司在2016年10月发布了高通Snapdragon X50 5G调制解调器平台，设计用于支持高达5 Gbps的下载速度，最初使用的是28ghz毫米波(mmWave)波段的非常宽的带宽。Snapdragon X50芯片组的采样预计将于今年下半年开始，在此之前将进行全面的测试和性能表征。

卓越的技术参数，以及在生产和制造环境中所要求的性能、稳定性和可靠性，使高通技术选择Rohde & Schwarz提供5G生产测试系统。新设计的R&S TS7830射频测试系统以R&S SMW200A矢量信号发生器和R&S FSW43信号与频谱分析仪为基础，辅以其他设备、部件和自动化软件。该系统是作为一个功能齐全的5G交钥匙解决方案提供的。

目前，R&S SMW200A是唯一一种能够在单个仪器内提供高达2 GHz带宽和40 GHz射频频率的信号产生能力的仪器。R&S FSW信号和频谱分析仪系列提供高达85 GHz的频率支持，包括预先选择，确保单扫描测量和双扫描测量的图像抑制，从而节省测试时间。外部谐波混频器提供了一个易于使用的扩展，以支持高达110ghz的射频频率。最近的一次升级使R&S FSW成为目前市场上唯一支持1.2 GHz内部分析带宽的信号和频谱分析仪。

Rohde & Schwarz的执行副总裁兼测试和测量部门负责人Roland Steffen说:“这一声明证明了Rohde & Schwarz对无线行业的承诺，即为5G设备和基础设施设备提供创新的测试工具和解决方案。”“我们很高兴被高通技术公司选中，我们期待着在5G的各个方面合作的同时，把我们成功的合作关系提升到一个新的水平。”

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