100 gbit /s多通道光学模块的BERTWave测试仪

Anritsu推出了最新的BERTWave MP2110A系列，该系列是为100 gbit /s多通道光学模块的制造检测而优化的。

新加入的BERTWave MP2110A是一种一体机，用于同时进行BER(误码率)测量和眼型分析，用于评估光学通信系统中使用的光学模块和设备，包括100 GbE、InfiniBand EDR和32G光纤通道。

随着数据流量和用户对独特服务的需求持续增长，供应商不断承受压力，要求提高数据中心系统的处理能力，同时控制由此导致的成本上升。最近的一个解决方案是将数据中心中使用的光学模块的比特率从10G提高到25G。新的多功能组合BERTWave MP2110A是为了满足这些不断变化的需求而设计的。MP2110A一体化设计不仅降低了仪器的成本，而且高速采样缩短了测量时间，而且高灵敏度的误差检测器性能提高了产量，帮助削减了光学模块和设备的生产成本。

与以前的测量环境不同，MP2110A支持同步测量，节省了设备安装空间。此外，为了缩短光学模块和设备生产线的takt时间，MP2110A的最大采样速度提高到250 ksample /s，用于眼罩测试的大幅眼纹分析时间比早期仪器提高了75%。

MP2110A还支持将内置的误码率测试仪(BERT)扩展到4ch，最高可达28.2 Gbit/s，内置的采样示波器扩展到2ch。因此，MP2110A可以同时对QSFP28等多通道光学模块进行TRx BER测量，并同时进行2ch眼型分析，比以前的测量系统减少了高达65%的测量时间。最小灵敏度为- 15dbm (typ)采样示波器的光学接口支持对被开关衰减的信号进行精确的眼型分析等。只有600 fs rms (typ.)的优良PPG抖动性能和25 mV (typ.)的ED灵敏度也支持比被测设备(DUT)性能更好的测量。

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